執(zhí)行JB/T4730-2005和ASME規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)壓力容器的無損檢測(cè)方法

我國(guó)制造和使用的壓力容器，在制造階段要求按照J(rèn)B/T4730-2005承壓設(shè)備無損檢測(cè)的要求進(jìn)行檢驗(yàn)和驗(yàn)收。對(duì)于按照ASME規(guī)范建造的容器，無損檢測(cè)方法要求按照ASME規(guī)范無損檢測(cè)執(zhí)行，而驗(yàn)收要根據(jù)相關(guān)的技術(shù)要求和建造規(guī)范進(jìn)行。

對(duì)于檢測(cè)人員資質(zhì)，按照J(rèn)B/T4730的要求，從事承壓設(shè)備和部件的無損檢測(cè)人員，應(yīng)按照《特種設(shè)備無損檢測(cè)人員考核與監(jiān)督管理規(guī)則》的要求取得相應(yīng)無損檢測(cè)資格。而ASME標(biāo)準(zhǔn)中無損檢測(cè)人員要按照SNT-TC-1A無損檢測(cè)人員資格鑒定和認(rèn)證推薦的內(nèi)容進(jìn)行培訓(xùn)、考核和認(rèn)證。因此，在選擇檢測(cè)人員時(shí)，要考慮該選擇哪類人員來做無損檢測(cè)工作。

檢驗(yàn)規(guī)程的要求

JB/T4730中對(duì)于檢測(cè)規(guī)程的要求僅規(guī)定了檢測(cè)規(guī)程應(yīng)包含的內(nèi)容以及編制、審核、批準(zhǔn)要求。而依據(jù)ASME標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行檢驗(yàn)時(shí)，超聲檢驗(yàn)規(guī)程編制后要進(jìn)行演示，得到AI的認(rèn)可后方可提交用戶審查。如果標(biāo)準(zhǔn)中所列的重要變素有所變化，要修改規(guī)程重新進(jìn)行演示。因此檢測(cè)規(guī)程要同時(shí)滿足雙標(biāo)的要求，還要進(jìn)行規(guī)程演示。

掃查覆蓋率，對(duì)于JB/T4730標(biāo)準(zhǔn)，為確保檢測(cè)時(shí)超聲聲束能掃查到工件的整個(gè)被檢區(qū)域，探頭的每次掃查覆蓋率應(yīng)大于探頭直徑的15%，而ASME標(biāo)準(zhǔn)中要求探頭每次移動(dòng)要有重疊，其范圍至少應(yīng)為探頭垂直于掃查方向尺寸的10%，為了達(dá)到良好的檢測(cè)效果，在產(chǎn)品的檢測(cè)規(guī)程中，統(tǒng)一要求覆蓋率為15%。

表面檢測(cè)

對(duì)于表面檢測(cè)的控制，使用的檢測(cè)材料要同時(shí)滿足兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的要求，操作方法及步驟要嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)于缺陷的驗(yàn)收有所不同：

其一，兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)均不允許線型顯示存在。

其二，ASME標(biāo)準(zhǔn)要求大于1.5mm的顯示為相關(guān)顯示，而JB/T4730-2005要求小于0.5mm的顯示不計(jì)，在實(shí)際檢測(cè)中，按照更嚴(yán)格的標(biāo)準(zhǔn)控制，小于0.5mm不計(jì)。

其三，對(duì)于磁粉檢測(cè)和滲透檢測(cè)，ASME標(biāo)準(zhǔn)的驗(yàn)收條款相同，不允許存在大于3/16英寸（5mm)的圓形相關(guān)顯示，不允許存在4個(gè)或4個(gè)以上分開排列的相關(guān)顯示，邊與邊的間距小于或等于1/16英寸(1.5mm)。

其四，而JB/T4730-2005中，磁粉II級(jí)驗(yàn)收，圓形顯示d$3.0，且在評(píng)定框35x100內(nèi)不大于2個(gè)，滲透檢測(cè)n級(jí)驗(yàn)收，圓形顯示d$4.5，且在評(píng)定框35x100內(nèi)少于或等于4個(gè)。

由上可見，JB/T4730-2005標(biāo)準(zhǔn)對(duì)于表面檢測(cè)的驗(yàn)收更加嚴(yán)格，因此，在實(shí)際檢測(cè)中，要求檢測(cè)結(jié)果按照J(rèn)B/T4730-2005驗(yàn)收，但按照不同格式出具兩份檢測(cè)報(bào)告。